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激光共聚焦顯微鏡LMS800

更新時間:2020-12-30

簡要描述:

激光共聚焦顯微鏡LMS800介紹
蔡(cai)司(si)LSM 800激(ji)光共(gong)聚焦掃描(miao)顯微鏡(jing)(CLSM)是一臺幫您進(jin)行材料分(fen)析的儀(yi)器。在您的實驗室(shi)或多用戶設備中表征3D表面形(xing)貌。LSM 800能(neng)夠對納米材料、金屬、聚合(he)物(wu)及半(ban)導體進(jin)行準確的三維(wei)成像和分(fen)析。蔡(cai)司(si)Axio Imager.Z2m與(yu)共(gong)聚焦掃描(miao)組(zu)件的融合(he)可以擴展您的正置光顯微鏡(jing)功能(neng)。

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材料研究用 LSM 800

科研與失效分析用多功能共聚焦顯微鏡

激光共聚焦顯微鏡LMS800介紹

蔡(cai)司LSM 800激光(guang)共(gong)聚(ju)焦掃(sao)描顯微(wei)鏡(jing)(CLSM)是(shi)一臺(tai)幫您進(jin)(jin)行材(cai)料分(fen)(fen)析(xi)的(de)(de)儀器。在您的(de)(de)實驗室或(huo)多用戶設備中表征3D表面形貌。LSM 800能夠對納米材(cai)料、金屬、聚(ju)合(he)物及半(ban)導體進(jin)(jin)行準確的(de)(de)三(san)維成像和分(fen)(fen)析(xi)。蔡(cai)司Axio Imager.Z2m與共(gong)聚(ju)焦掃(sao)描組件的(de)(de)融合(he)可以擴展您的(de)(de)正置光(guang)顯微(wei)鏡(jing)功能。將用于材(cai)料研究的(de)(de)各種基(ji)本的(de)(de)觀(guan)察方式(shi)(shi)與高(gao)精度(du)表面形貌分(fen)(fen)析(xi)結合(he),無需調整顯微(wei)鏡(jing),節省設置儀器的(de)(de)時間(jian)。為您提(ti)供的(de)(de)工(gong)作(zuo)流程指導可使成像更簡便。這得益于開放式(shi)(shi)的(de)(de)軟件,使用戶能夠用自(zi)己的(de)(de)宏觀(guan)解(jie)決(jue)方案(an)進(jin)(jin)行樣品分(fen)(fen)析(xi)。 

激光共聚焦顯微鏡LMS800

特點

光顯微成像與共聚焦成像的出色結合

共聚(ju)焦平(ping)臺LSM 800 是(shi)應2D和(he)3D材料應用(yong)(yong)需求而研發。并應用(yong)(yong)了正置(zhi)顯微鏡的一系列觀(guan)察方式(shi)。

  • 用熒光觀察方式或在共聚焦模式下表征3D結構。
  • 偏光方式觀察各向異性材料。
  • 用圓微分干涉(C-DIC)方式識別興趣區域,并在共聚焦模式下做進一步地形研究。 

工作流程指導使成像變得更簡單

無需(xu)調整顯微鏡,僅(jin)通過(guo)分(fen)析與成像(xiang)即(ji)可減少儀器設置(zhi)時間,并能快速產生結(jie)果(guo)。

  • 僅在樣本上定義2D掃描區域,然后即可采集到感興趣區域(ROI)圖像。
  • 在感興趣區域大小和方位上具有極大的靈活性。
  • 會有一個簡單的用戶界面幫您進行工作流程指導。

擴展您的成像范圍

共聚焦幫(bang)您(nin)拓展寬視(shi)場分析能(neng)力

  • 升級您的Axio Imager.Z2m 至LSM 800,并充分利用其功能多樣的硬件,如物鏡、載物臺和照明。
  • 采用開放式應用程序開發(OAD)定義您的應用程序。通過外部程序如MATLAB進行數據交換。
  • 用Shuttle & Find關聯顯微鏡擴展您的共聚焦顯微鏡功能。從光學顯微鏡到電子顯微鏡,為您提供了完整的工作流程——反之亦然。將成像與分析方法進行有效結合,*還原了材料分析應用中的所有信息。

共聚焦原理

 

對整個樣本進行3D成像

LSM800激(ji)光(guang)共(gong)聚焦(jiao)(jiao)顯(xian)微(wei)鏡用共(gong)聚焦(jiao)(jiao)光(guang)束路(lu)徑中的(de)激(ji)光(guang)捕獲(huo)樣本中定義的(de)光(guang)切面,并將(jiang)它(ta)們組合在三維圖像(xiang)中。它(ta)的(de)光(guang)圈(通(tong)常稱針(zhen)孔)是按這種(zhong)方式設置的(de):焦(jiao)(jiao)距(ju)以外的(de)信息會被阻擋在外,只有焦(jiao)(jiao)距(ju)以內(nei)的(de)信息能夠被探(tan)測到(dao)。

  • 按照x,y軸方向掃描生成圖像。焦距內的信息是明亮的,焦距以外的信息是黑暗的。
  • 通過改變樣本與物鏡之間距離(樣本是光學切割的截面),生成圖像棧。
  • 通過分析圖像棧中單個像素的分布強度,可計算出相應的高度。整個視野中的高度信息結合起來可以形成一個高度圖。

共聚焦原理示意圖

 

 

采用C Epiplan-APOCHROMAT物鏡

采用C Epiplan-APOCHROMAT物(wu)鏡 

 

  • 得益于在可見光譜范圍內,增強成像對比度和進行高速傳輸成像。
  • 在傳統寬視場顯微技術中,用微分干涉(DIC)和熒光獲取更佳的觀察結果。
  • C Epiplan-APOCHROMAT物鏡專門為共聚焦顯微技術而設計,能夠實現全視野中405納米的像差。這樣可以更少的減少干擾噪聲和工件產生精準的地形數據,從而顯示更多樣本表面細節。

用(yong)Strehl比(bi)率(lv)評估C Epiplan–APOCHROMAT物鏡的(de)(de)光學質量。這個結果相對(dui)于值為1的(de)(de)理論上完美的(de)(de)系統,體現了一個更為真實的(de)(de)系統性能(neng)。

 

開放式應用程序開發(OAD):您的ZEN成像軟件界面

蔡(cai)司LSM 800配備(bei)新版ZEN成像軟件,包(bao)含一(yi)個開放式應用(yong)程序開發(OAD)界面,用(yong)于數據交(jiao)換。

  • 自定義并自動化您的工作流程。當您需要除基本的ZEN軟件以外的功能時,您可以與第三方分析和研究軟件交換數據,如MATLAB。
  • 創建屬于自己的宏觀解決方法。享受輕松設置ZEN重要功能和獲取元件庫的能力,如網絡框架。

OAD: 您(nin)的(de)ZEN成像軟件界面

用ConfoMap進行3D表面探測

 

ConfoMap是實(shi)現3D表面形(xing)貌探測(ce)可視(shi)化的(de)理想選擇(ze)。

  • 根據近期的計量標準進行表面性能的質量與功能評估,如ISO25178。
  • 共聚焦圖包括綜合幾何,功能性和粗糙度研究——以及創建詳細的表面分析報告。
  • 新增加可選模塊用于先進的表面紋理分析,輪廓分析,顆粒與粒子分析,3D傅立葉分析,表面進化分析和統計。

 

 

 激光共聚焦顯微鏡LMS800

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